Сайты ТГУ
RU

Томский государственый университет

Институт прикладной математики и компьютерных наук

Кафедра компьютерной безопасности

и.о.Заведующего кафедрой:Твардовский Александр Сергеевич, доцент, к.ф.-м..н., доцент
Ауд. 2-211
Твардовский.png
Профессорско-преподавательский состав
Кафедры Компьютерной безопасности
673 ОД Присоединение кафедры ИПМКН.pdf

Контактные данные сотрудников кафедры компьютерной безопасности

НАПРАВЛЕНИЕ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ КАФЕДРЫ

Безопасность аппаратного обеспечения

ПРОЕКТЫ:

01.01.2015 — 31.12.2016
Разработка статистических, вероятностных и логических методов для синтеза и анализа сложных систем
Государственная поддержка ведущих университетов Российской Федерации в целях повышения их конкурентной способности среди ведущих мировых научно-образовательных центров (5-100)
20.06.2014 — 31.12.2018 
Тестирование и контролепригодное проектирование логических схем высокой производительности 

ОСНОВНЫЕ ПУБЛИКАЦИИ:

  • Matrosova A.Y., Andreeva V.V., Chernyshov S.V., Rozhkova S.V., Kudin D.V. Finding false paths in sequential circuits //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 60, № 10. P. 1837-1844.
  • Shah T., Matrosova A., Fujita M., Singh V. Multiple stuck-at fault testability analysis of ROBDD based combinational circuit design //Journal of Electronic Testing. 2018. Vol. 34, № 1. P. 53-65.
  • Ahlawat S., Tudu J., Matrosova A., Singh V. A High Performance Scan Flip-Flop Design for Serial and Mixed Mode Scan Test //IEEE Trans. Device Mater. Reliab. 2018. Vol. 18, № 2. P. 321-331.
  • Matrosova A.Yu., Andreeva V.V., Nikolaeva E.A. Finding Test Pairs for pdfs in Logic Circuits Based on Using Operations on robdds //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 61, № 5. P. 994-999.
  • Ostanin S., Andreeva V., Butorina N., Tretyakov D. Fault-tolerant Synchronous FSM Network Design for Path Delay Faults //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2018), Kazan, 14-17 september 2018. [S. L.], 2018. P. 645-648.
  • Matrosova A., Ostanin S., Kirienko I., Nikolaeva E. A Fault-tolerant Sequential Circuit Design for safs and pdfs Soft Errors //2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Sant Feliu de Guixols, Spain, 2016. P.
  • Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Trojan Circuits Preventing and Masking in Sequential Circuits //2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Thessaloniki, Greece: IEEE Computer Society, 2017. P. 213-214.
  • Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Preventing and masking Trojan circuits triggering out of working area //2017 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), 4-6 september, 2017, Catania. Catania: IEEE Computer Society, 2017. P. 1-4.
  • Matrosova A., Ostanin S., Andreeva V. Patching circuit design based on reserved clbs //Proceedings of 2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Romania: IEEE Computer Society, 2016. P. 49-54.
  • Жуковская А.О., Тренькаев В.Н. Метод идентификации обратимого автомата с известной функцией выходов //Прикладная дискретная математика. Приложение. 2017. № 10. С. 140-142.
  • N. G. Parvatov, “On the period length of vector sequences generated by polynomials modulo prime powers”, ПДМ, 2016, 1(31),  57–61
  • Н.Г. Парватов, Обобщённый алгоритм Берлекэмпа-Месси, трудых Международной конференции «Дискретные модели в теории управляющих систем» – Москва: МАКС Пресс, 2018. С. 211-213.
  • Golubeva O. Detection of hard-to-detect stuck-at faults and generation of their tests based on testability functions // 2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Cluj-Napoca, Romania. 24−26 May 2018.
  • Голубева О.И. Интервальные расширения булевых функций и троичное моделирование последовательностных схем // Таврический научный обозреватель. – 2017. – №5 (22). – с. 208 – 220.
  • Matrosova A.Y., Andreeva V.V., Chernyshov S.V., Rozhkova S.V., Kudin D.V. Finding false paths in sequential circuits //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 60, № 10. P. 1837-1844.
  • Shah T., Matrosova A., Fujita M., Singh V. Multiple stuck-at fault testability analysis of ROBDD based combinational circuit design //Journal of Electronic Testing. 2018. Vol. 34, № 1. P. 53-65. hlawat S., Tudu J., Matrosova A., Singh V. A High Performance Scan Flip-Flop Design for Serial and Mixed Mode Scan Test //IEEE Trans. Device Mater. Reliab. 2018. Vol. 18, № 2. P. 321-331. atrosova A.Yu., Andreeva V.V., Nikolaeva E.A. Finding Test Pairs for pdfs in Logic Circuits Based on Using Operations on robdds //Russian Physics Journal. 2018. Vol. 61, № 5. P. 994-999.
  • Ostanin S., Andreeva V., Butorina N., Tretyakov D. Fault-tolerant Synchronous FSM Network Design for Path Delay Faults //Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’2018), Kazan, 14-17 september 2018. [S. L.], 2018. P. 645-648.
  • Мatrosova A., Ostanin S., Kirienko I., Nikolaeva E. A Fault-tolerant Sequential Circuit Design for safs and pdfs Soft Errors //2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Sant Feliu de Guixols, Spain, 2016. P.
  • Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Trojan Circuits Preventing and Masking in Sequential Circuits //2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). Thessaloniki, Greece: IEEE Computer Society, 2017. P. 213-214.
  • Matrosova A., Mitrofanov Е., Ostanin S., Kirienko I. Preventing and masking Trojan circuits triggering out of working area //2017 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), 4-6 september, 2017, Catania. Catania: IEEE Computer Society, 2017. P. 1-4.
  • Matrosova A., Ostanin S., Andreeva V. Patching circuit design based on reserved clbs //Proceedings of 2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Romania: IEEE Computer Society, 2016. P. 49-54.
  • Жуковская А.О., Тренькаев В.Н. Метод идентификации обратимого автомата с известной функцией выходов //Прикладная дискретная математика. Приложение. 2017. № 10. С. 140-142.
  • Golubeva O. Detection of hard-to-detect stuck-at faults and generation of their tests based on testability functions // 2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR). Cluj-Napoca, Romania. 24−26 May 2018.
  • Голубева О.И. Интервальные расширения булевых функций и троичное моделирование последовательностных схем // Таврический научный обозреватель. – 2017. – №5 (22). – с. 208 – 220.